SurfaceX华为硬件可测性设计规范.pdf
华为硬件可测性设计规范1范围2定义3功能测试可测性设计规范3.1功能测试装备原理说明3.2 单板功能测试可测性设计3.2.1机械结构的可测性设计3.2.2自检和自环3.2.3测试夹具3.2.4其他4 ICT可测性设计规范4.1机械设计规范4.1.1测试点4.1.2 Tooling Holes4.1.3两个测试点中心间隔4.1.4测试点到其它物体的间距4.1.5焊锡面元件高度4.1.6其他4.2电路设计规范4.2.1芯片的控制引脚4.2.2反馈环路4.2.3边界扫描设计4.2.4 NAND-Tree4.2.5 FPGA和EPLD设计4.2.6在线编程4.2.7减少测试点的方法4.2.8其他华为硬件可测性设计规范1范围2定义3功能测试可测性设计规范3.1功能测试装备原理说明3.2 单板功能测试可测性设计3.2.1机械结构的可测性设计3.2.2自检和自环3.2.3测试夹具3.2.4其他4 ICT可测性设计规范4.1机械设计规范4.1.1测试点4.1.2 Tooling Holes4.1.3两个测试点中心间隔4.1.4测试点到其它物体的间距4.1.5焊锡面元件高度4.1.6其他4.2电路设计规范4.2.1芯片的控制引脚4.2.2反馈环路4.2.3边界扫描设计4.2.4 NAND-Tree4.2.5 FPGA和EPLD设计4.2.6在线编程4.2.7减少测试点的方法4.2.8其他
声明：本站所有文章资源内容，如无特殊说明或标注，均为网络整理资源或由用户投稿资源。本站资源如有侵害你的权利，可联系我们进行处理。
